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電磁學(xué)測量儀器磁光克爾效應(yīng)測量系統(tǒng) 可測試材料：記錄磁頭，磁性薄膜，特殊磁介質(zhì)，磁場傳感器

定制半導(dǎo)體材料測量設(shè)備JZM-D30室溫探針臺 該探針臺和我司自主研發(fā)的*精度雙極性恒流電源搭配使用，可以提高磁場的*穩(wěn)*性。

磁性薄膜材料測量設(shè)備磁光克爾效應(yīng)測量系統(tǒng) 手動左右和上下位移樣品，可測試樣品表面不同點的克爾效應(yīng)，樣品座有電接口，可加入磁電耦合測試。

儀器輕巧方便，易于攜帶，主要用于量測電子材料之重要特性參數(shù)，如載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等，薄膜或固體材料均可。半導(dǎo)體材料測試系統(tǒng)霍爾效應(yīng)電磁鐵型JH60A